[发明专利]多谱段日盲窄带紫外成像仪及其检测不同放电状态的方法在审
申请号: | 202011162020.0 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112285504A | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 王胜辉;律方成;牛雷雷 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01J1/42;G01J1/02 |
代理公司: | 北京君有知识产权代理事务所(普通合伙) 11630 | 代理人: | 焦丽雅 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 多谱段日盲窄带紫外成像仪及其检测不同放电状态的方法,所述多谱段日盲窄带紫外成像仪,当光线通过镜头进入分光镜后,分别进入两个相互独立的可见光通道和紫外通道;所述可见光通道:光线经过分光镜的折射和反射后进入可见光相机,进行可见光成像并将可见光成像传输给图像控制处理模块;所述紫外通道:透过分光镜输出的光线经过日盲紫外滤光片后并经过多谱段滤光片之后进入紫外像增强器中,并将紫外像增强器处理过的光电子转换图像传输给图像控制处理模块。 | ||
搜索关键词: | 多谱段日盲 窄带 紫外 成像 及其 检测 不同 放电 状态 方法 | ||
【主权项】:
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