[发明专利]一种基于全偏振测量系统的偏振敏感材料的受力分析方法在审
申请号: | 202011165453.1 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112378752A | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 张春熹;杨艳强;王心;于佳 | 申请(专利权)人: | 衡阳市智谷科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N19/00 |
代理公司: | 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 44504 | 代理人: | 罗炳锋 |
地址: | 421000 湖南省衡阳市雁峰区岳*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于全偏振测量系统的偏振敏感材料的受力分析方法,涉及偏振测量技术领域,包括将传感器和偏振敏感材料进行安装,对所述偏振敏感材料建立力学分析模型,对所述偏振敏感材料的力学分析模型进行离散化,生成力学分析模型的四个方向的单元,对所述偏振敏感材料施加载荷,并通过传感器记录所述偏振敏感材料的受力,根据所述偏振敏感材料在三维空间中的应变。该基于全偏振测量系统的偏振敏感材料的受力分析方法,通过利用将建立的偏振敏感材料的力学分析模型进行离散化,可以将力学分析模型分为四个不同方向的单元来进行受力分析,通过四个方向的受力分析可以使得对偏振敏感材料的布设更加精准。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 偏振 测量 系统 敏感 材料 分析 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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