[发明专利]制作光子晶体的方法及光子晶体在审

专利信息
申请号: 202011165681.9 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN112462452A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 唐波;张鹏;杨妍;李志华;刘若男;李彬;黄凯;谢玲;王文武 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00;G03F7/00
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 金铭
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种制作光子晶体的方法及光子晶体,该制作光子晶体的方法包括以下步骤:提供绝缘体上硅(SOI)衬底;在所述绝缘体上硅(SOI)衬底上沉积硬掩膜层;在所述硬掩膜层上形成凹槽;采用原子层沉积(ALD)工艺在所述凹槽内形成侧墙;在所述绝缘体上硅(SOI)衬底上形成孔洞结构。采用原子层沉积侧墙工艺,减小孔洞尺寸,实现超出光刻机能力范围的光子晶体结构。
搜索关键词: 制作 光子 晶体 方法
【主权项】:
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