[发明专利]一种双反射面天线的流固电磁三场耦合计算方法有效
| 申请号： | 202011168604.9 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN112597707B | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 刘国玺;杜彪;刘胜文;伍洋;郑元鹏;陈隆 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G06F30/28 | 分类号： | G06F30/28;G06F30/23 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄市中山西路58*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种双反射面天线的流固电磁三场耦合计算方法，它涉及反射面天线分析技术领域，旨在提供一种精度高、无转化误差和实用性强的计算方法。本发明主要包括以下过程：在流体场前处理软件中建立模型和计算域，将中间格式文件导入到流体场软件中，求解后得到流体场结果；将流体场结果转化格式后导入到固体场软件中，在固体场中建立关系耦合单元，经求解后得到固体场结果；再在电磁软件中将固体场结果进行插值处理，得到电磁计算模型，经计算后得到最终的电气结果。本发明有效地综合了流、固和电磁三场耦合分析，特别适合于各类反射面天线的设计、指标预算和强度校核。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 天线 电磁 耦合 计算方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十四研究所，未经中国电子科技集团公司第五十四研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011168604.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
