[发明专利]一种针对大规模电路的单粒子效应快速仿真方法有效

专利信息
申请号: 202011184011.1 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112329374B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 刘毅;荀奕珲;杨银堂 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F30/38 分类号: G06F30/38
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 胡乐
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种针对大规模电路的单粒子效应快速仿真方法,能够在保证单粒子效应表征精度的前提下,使得大规模仿真时间开销显著下降。该仿真方法包括:步骤1)选定被分析电路,进行仿真相关设置;步骤2)基于电路网表文件,提取和编辑仿真所需文件,包括包含故障注入的晶体管级网表、不含故障注入的门级/RTL级/行为级网表、描述数模转换接口的a2d文件、结果测量文件和testbench文件;步骤3)进行模拟与数字的混合仿真,分析结果测量文件在仿真中得到的仿真结果,得出指定故障注入范围情况下,电路对单粒子效应的响应情况;步骤4)遍历判断;步骤5)面积等效分析。
搜索关键词: 一种 针对 大规模 电路 粒子 效应 快速 仿真 方法
【主权项】:
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