[发明专利]纳米粒子运移的预测方法、其影响因子分析方法及系统在审
| 申请号： | 202011185025.5 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112199862A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 刘颉;李尚元;周凯波;周翔;张昌河;张凯锋;曹贯男 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06N99/00;G06N3/00 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 廖盈春;曹葆青 |
| 地址： | 430074 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种纳米粒子运移的预测方法、其影响因子分析方法及系统，包括：从多孔介质中纳米粒子运移实验中提取参数与结果数据，得到训练特征与目标特征；使用独热编码和随机森林的方法对数据预处理，编码类别型特征的同时填充缺失值；使用SMOTE技术进行数据平衡，结合支持分类特征梯度提升机建立并训练模型，对表征纳米粒子运移的指标进行回归或分类预测。最后通过沙普利累积解释方法分析不同特征对纳米粒子运移的影响的方向和大小。本发明节约了纳米粒子运移实验成本的同时提高了预测的泛化性；通过对不平衡数据进行数据处理，提高了样本数据质量和预测精度；将模型解释方法用于特征分析，使纳米粒子运移行为具有可解释性。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 粒子 预测 方法 影响 因子分析 系统 | ||
【主权项】：
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