[发明专利]波导片的光学性能测试装置有效
| 申请号： | 202011186782.4 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112326204B | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 刘宝山;赵东峰;董立超;彭旭;刘艺;朱春霖;艾立夫 | 申请（专利权）人： | 歌尔光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 梁馨怡 |
| 地址： | 261031 山东省潍坊市高新区清池街*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种波导片的光学性能测试装置，所述波导片的光学性能测试装置包括：第一遮光机构；第二遮光机构，所述第二遮光机构与所述第一遮光机构盖合后，在所述第二遮光机构与所述第一遮光机构之间形成有环形凹槽，所述环形槽用于容置所述波导片的边缘，以遮挡所述波导片的边缘；其中，所述第二遮光机构与所述第一遮光机构中，至少一者上开设有测试窗口，以暴露所述波导片的至少一个表面。本发明通过设置具有遮光作用的机构，在对波导片测试时由遮光机构遮挡波导片边缘处的进光，在避免杂散光的同时无需在波导片侧面涂覆遮光层，提高波导片的良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 波导 光学 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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