[发明专利]缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202011192922.9 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112541884A | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 金侠挺;郑佳;潘华东 | 申请（专利权）人： | 浙江大华技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/187;G06T7/143 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 310051 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质。其中，所述缺陷检测方法包括：获取关于目标对象表面的基础图像；对所述基础图像进行预分割处理，获取包含连通域的质心坐标的预分割结果；利用表面缺陷预测模型对所述基础图像进行预测，获取缺陷的矩形感兴趣区域；基于所述预分割结果和所述缺陷的矩形感兴趣区域的对应关系，筛选出所述目标对象表面的真阳性缺陷。上述方案，能够精准的检测出目标对象表面的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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