[发明专利]一种功率半导体器件的制作方法及功率半导体器件在审
| 申请号： | 202011193583.6 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112310225A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 李诚瞻;赵艳黎;陈喜明;王亚飞;龚芷玉;罗烨辉;魏伟;罗海辉 | 申请（专利权）人： | 株洲中车时代半导体有限公司 |
| 主分类号： | H01L29/78 | 分类号： | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;陈敏 |
| 地址： | 412001 湖南省株洲市石峰*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供一种功率半导体器件的制作方法及功率半导体器件，解决了为了提高碳化硅MOSFET的电流控制能力，将器件的尺寸缩小，导致源极欧姆接触面积减小，进而增大器件源极区域欧姆接触电阻占比的问题。包括：提供一第一导电类型衬底；在第一导电类型衬底上形成第一导电类型漂移层；在第一导电类型漂移层上形成第二导电类型掺杂层和第二导电类型埋层；在第二导电类型掺杂层的部分区域形成第一导电类型掺杂层；在第一导电类型掺杂层上表面、第二导电类型掺杂层上表面以及第一导电类型漂移层的部分上表面上形成栅极结构；在第二导电类型埋层、第一导电类型掺杂层和栅极结构上形成源极；在第一导电类型衬底的背面形成漏极。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 制作方法 | ||
【主权项】：
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