[发明专利]一种核辐射测量仪器的刻度方法在审
| 申请号： | 202011193825.1 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112269206A | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 陈磊;吴会寅;李石全;胡俊丽;徐智博 | 申请（专利权）人： | 重庆建安仪器有限责任公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种核辐射测量仪器的刻度方法，包括刻度设备和刻度装置；具体包括以下步骤：S1、将数据传送板上输出线缆与刻度设备电连接，并将仪器安装架的输出接头与数据传送板的传输接口电连接；S2、待测量的核辐射测量仪器安装到刻度装置的仪器安装架上，使测量的核辐射测量仪器与仪器安装架的输入接头电连接；S3、控制刻度设备对其中一仪器安装架上的核辐射测量仪器进行刻度；完成后，控制电动旋转台转动，完成其他核辐射测量仪器的刻度；S4、待所有仪器安装架上的核辐射测量仪器均刻度完成后，取下所有的核辐射测量仪器，并重复步骤S2‑S3进行其他核辐射测量仪器的刻度。本发明能够降低辐射泄漏风险，提高刻度效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 核辐射 测量 仪器 刻度 方法 | ||
【主权项】：
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