[发明专利]RFID标签天线阻抗测试方法有效
| 申请号： | 202011195509.8 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112394227B | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 邓欣;袁红刚;娄宁;何华武;闫善勇 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R31/52;G01R31/54;G01R35/00;G06K19/07 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 刘凯 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种RFID射频识别标签天线阻抗测试方法，旨在提供一种快速、简便，能够较为准确地测试RFID标签天线阻抗的方法。本发明通过下述技术方案实现：首先对矢量网络分析仪进行自身校准，在矢量网络分析仪上连接测试夹具，建立双端口差分测试模型，代替传统天线阻抗测试的单端口测试模型，将延伸结构与矢量网络分析仪通过同轴线进行连接，然后对有开路校准和短路校准的两种模式进行测量，选择两种模式的平均值；完成上述一系列校准以及端口迁移后，将待测标签天线与测试夹具进行焊接，从矢量网络分析仪中得到所需要的相关测试S参数，将数据导出到仿真计算数学软件Matlab中进行数据处理，得到测试的天线阻抗。 | ||
| 搜索关键词： | rfid 标签 天线 阻抗 测试 方法 | ||
【主权项】：
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