[发明专利]磁环表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011199608.3 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112288727A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 艾国;张帅 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（重庆）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/73;G06K9/62;G06N3/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 钟扬飞 |
| 地址： | 400000 重庆市九龙坡区*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请提供一种磁环表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，磁环表面缺陷检测方法，包括：获取待检测磁环表面图像及对应的缺陷掩码图像；根据预设的特征提取网络模型对待检测磁环表面图像进行特征提取，得到特征提取图像；根据预设的语义分割网络模型及特征提取图像，得到疑似缺陷区域的目标位置的位置信息；以疑似缺陷区域的目标位置的位置信息对特征提取图像进行裁剪，得到对应的区域特征图像；输入区域特征图像及缺陷掩码图像至预设的分类网络模型，得到对应各区域特征图像的预测结果。本申请磁环表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，可较好地提高磁环表面缺陷检测的准确率，使磁环表面缺陷检测的效果更佳。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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