[发明专利]一种在高阶布尔规格测试中测试用例集筛选和约简的方法

摘要

本发明公开了一种在高阶布尔规格测试中测试用例集筛选和约简的方法，包括以下内容：1)根据变异体生成规则计算出非f(x)+g(x)类型变异体的公式。2)通过删除非f(x)+g(x)类型变异体，从f(g(x))类型的变异体中筛选出f(x)+g(x)类型变异体。3)针对某个表达式，读取某一二阶变异类型下的所有失败测试用例集，每次选择出现次数最高的测试用例，并删除该测试用例和已覆盖的变异体，直到这一变异类型所有变异体都被覆盖为止，最终得到该变异类型的最简失败测试用例集。本发明为高阶布尔规格测试提供了一种高执行效率的测试用例集筛选和约简的方法，希望通过这种方法来减少未来对测试用例集处理以及高阶变异测试中的工作开销，使得研究工作者获得更精确的研究结果。