[发明专利]密码机测试装置及用其进行密码机测试的方法在审
| 申请号： | 202011203466.3 | 申请日： | 2020-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN112269698A | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 崔岚;王于波;庞振江;李延;付青琴;刘佳;白雪松;付利莉 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;北京智芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种密码机测试装置及用其进行密码机测试的方法，属于密码机功能测试技术领域。所述密码机测试装置预先存储有封装函数，利用密码机测试装置进行密码机测试的方法包括：接收用户指令，所述用户指令包括用于组成命令报文的输入参数；根据所述用户指令调用所述封装函数以生成所述命令报文；发送所述命令报文至密码机；以及接收所述密码机发送的与所述命令报文对应的响应报文。本发明提供的技术方案，具有测试覆盖面广和灵活度高的优点，并且能够有效降低密码机测试的复杂性。 | ||
| 搜索关键词： | 密码机 测试 装置 进行 方法 | ||
【主权项】：
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