[发明专利]表层品质因子Q值的确定方法及装置在审
| 申请号： | 202011208381.4 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112415601A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 张录录;夏建军;秦鑫;郭再平;宋娜;许杰忠 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 |
| 主分类号： | G01V1/50 | 分类号： | G01V1/50 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 薛平;周晓飞 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种表层品质因子Q值的确定方法及装置，其中该方法包括：根据目标区域的微测井数据，建立表层水平层状地质模型；修正表层水平层状地质模型的低速层地层速度，得到修正后的表层水平层状地质模型；在修正后的表层水平层状地质模型上，利用射线追踪方法正演直达波记录；根据正演直达波记录，识别微测井采集记录上的直达波位置，剔除微测井采集记录上初至波非直达波的地震道；利用频率波数域滤波剔除干扰波，得到滤波后的微测井记录；根据滤波后的微测井记录，确定目标区域的表层品质因子Q值。通过剔除初至波非直达波的地震道、利用频率波数域滤波来剔除干扰波，减少干扰波对Q值计算精度的影响，从而提高表层品质因子Q值的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 表层 品质 因子 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
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