[发明专利]半导体器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202011208819.9 申请日: 2020-11-03
公开(公告)号: CN112331661B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 汤召辉;张磊;周玉婷;乔思 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 430079 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种半导体器件的制作方法,包括以下步骤:提供半导体结构,半导体结构包括由第一材料层和第二材料层交替堆叠的堆叠结构,堆叠结构包括平台区和与平台区相邻的台阶区,平台区和台阶区的顶部为第二材料层;形成覆盖平台区上表面和台阶区表面的第三材料层;形成填充台阶区且覆盖平台区的第四材料层;去除平台区上的第三材料层和第四材料层,且保留位于平台区上靠近台阶区的边缘的第三材料层和第四材料层;进行第一次平坦化,第一次平坦化去除凸起的第四材料层,且停留在平台区上表面的第二材料层和第三材料层。该制作方法增大了接触孔的连接窗口,有效避免了平台区边缘处的过磨。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
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