[发明专利]共形天线全周期测试方法有效
| 申请号： | 202011214270.4 | 申请日： | 2020-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN112526225B | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 贺小琦;吴春博;梁平野;汪俊;汪昊;李若凡;王少君;吴松 | 申请（专利权）人： | 北京机电工程研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及天线测试技术领域，公开了一种共形天线全周期测试方法，包括：建立微带共形天线模型；建立初始载体平台模型，将微带共形天线模型设置在初始载体平台模型上得到第一组合模型；针对第一组合模型进行数值计算，根据数值计算结果提取简化的载体平台模型，将微带共形天线模型设置在简化的载体平台模型上得到第二组合模型；针对第二组合模型进行数值计算，获取简化的载体平台在不同塑性形变时微带共形天线模型的电磁特性，得到电磁特性随塑性形变的演变规律；建立共形天线在微波暗箱条件下的近场辐射特性计算模型；对计算模型进行数值计算，获取待评估的共形天线的近场辐射特性，进而得到待评估的共形天线与标准天线之间的传输系数变化。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 周期 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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