[发明专利]电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法在审
| 申请号： | 202011222188.6 | 申请日： | 2020-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN112526333A | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 李小兵;潘广泽;王春辉;时钟;李劲;唐敬;解江;孟苓辉;周健;王远航;刘文威;杨剑锋;罗琴 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郭凤杰 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及技术领域，公开了一种电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法。所述电流型老化试验系统，由六个开关器件构成一个三相逆变电路，老化电流源与上述三相逆变电路相连接。利用老化电流源提供三相逆变电路的老化电流，老化电流源可以依照三相逆变电路实际负荷工况下的交流电流幅值变化情况进行相应变化。与传统的电压型老化试验系统相比较，本发明提供的电流型老化试验系统只需要被试器件和老化电流源，不需要陪试部件以及电机等旋转部件，老化系统的结构大大简化。同时由于不需要搭载陪试模块或辅助，因此能够避免由于陪试模块或负载的老化而影响实验进程和最终的测试结果，可提高老化试验运行的可靠性和开关器件老化的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 电流 老化试验 系统 开关 器件 方法 | ||
【主权项】：
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