[发明专利]一种基于STS结构测量磁场和温度的光纤SPR传感器在审

专利信息
申请号: 202011230947.3 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN112254840A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 刘月明;涂帆;冯森林;王兆香 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G01K11/3206 分类号: G01K11/3206;G01R33/032;G01N21/552
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提出一种基于STS结构测量磁场和温度的光纤SPR传感器,包括宽带光源(1)、光纤环形器(2)、传感探头(3)、第一信号处理模块(4),第二信号处理模块(5),其中传感探头(3)以包层表面镀银膜的细芯光纤作为敏感单元,并通过相位掩膜法在细芯光纤上刻写FBG,最后细芯光纤两端无偏芯熔接单模光纤构成单模—细芯—单模(STS)结构。本传感器可实现双参量测量,利用表面等离子体共振效应和磁流体的折射率可调特性检测SPR共振峰漂移从而实现磁场的测量,利用光栅热膨胀性和金属膜的增敏性检测光纤光栅中心波长的漂移量来实现温度的测量,并对磁场测量进行温度补偿。
搜索关键词: 一种 基于 sts 结构 测量 磁场 温度 光纤 spr 传感器
【主权项】:
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