[发明专利]一种用于微系统局部性能检测的微波探头有效
| 申请号： | 202011235984.3 | 申请日： | 2020-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN112230026B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 吕英飞;张旻;肖晖;郭战魁;罗建强 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 李想 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于微系统局部性能检测的微波探头，属于微波测试的技术领域，该微波探头包括：同轴电缆，所述同轴电缆的一端为自由端且该自由端设有外露的内导体，另一端设有连接组件；设于同轴电缆上的弹性导电体，所述弹性导电体收纳或弹出于同轴电缆，其中，当弹性导电体弹出于同轴电缆时，同轴电缆通过弹性导电体进行就近接地，以达到通过对微波探头的结构优化，以实现探头的就近接地，且微波探头可以对微系统局部性能进行真实、稳定和重复探测，具有结构简单、操作方便、应用范围广等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 系统 局部 性能 检测 微波 探头 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所，未经中国电子科技集团公司第二十九研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011235984.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电力控制柜的除尘散热设备
- 下一篇：一种多功能靠枕
