[发明专利]一种铜箔缺陷检测系统在审
| 申请号： | 202011237348.4 | 申请日： | 2020-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN112415013A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 张杰 | 申请（专利权）人： | 上海圣之尧智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海塔科专利代理事务所(普通合伙) 31380 | 代理人： | 耿恩华 |
| 地址： | 201700 上海市青浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种铜箔缺陷检测系统，包括：采集模块，用于采集获得一与待测铜箔对应的初始图像；处理模块，对所述初始图像进行图像预处理获得一标准初始图像；匹配模块，于所述标准初始图像进行轮廓匹配获得所述待测铜箔的检测图像；对比模块，基于所述检测图像与一标准铜箔图像的差异系数大于一门限值，生成一与该待测铜箔相关联的缺陷标签，能够提取待测铜箔的检测图像，并且将该检测图像与标准铜箔图像进行对比，对比过程中，以检测图像的像素单元为最小对比单元，从而能够提高对比速度，实现在较短的时间内完成对该两侧铜箔的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 铜箔 缺陷 检测 系统 | ||
【主权项】：
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