[发明专利]一种采用离子色谱法测定二氧化锗氯离子含量的方法在审

专利信息
申请号: 202011249731.1 申请日: 2020-11-11
公开(公告)号: CN112379020A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 陈知江;崔丁方;彭明清;王侃;子光平;周雪娟;何兴军;廖吉伟;朱家义;朱恩福 申请(专利权)人: 云南驰宏国际锗业有限公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/20;G01N30/96
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 655099 云南省曲靖市翠峰西路*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种采用离子色谱法测定二氧化锗氯离子含量的方法,涉及氯离子含量测定技术领域。本发明包括以下步骤:S1:样品经NaOH溶液溶解,用水稀释,并混匀过滤后,即可进样;S2:将上述样品溶液载入液相进样阀的定量环中,定量环充满后,多余样品从放空孔排出,转动液相进样阀的手柄,使得液相进样阀与液相流路接通,由泵输送纯水冲洗定量环。本发明利用离子色谱阀切换和固相萃取原理,IonPac H柱可以有效去除样品基质中的重金属杂质,以及氢氧根,其他无机阴离子则正常流入色谱分离系统,流入色谱分离系统的无机阴离子再经AG11‑HC浓缩柱、AS11‑HC分离柱后,通过电导检测器进行检测,避免了现有技术使用硫氰酸汞影响工作人员身体健康和污染环境的问题。
搜索关键词: 一种 采用 离子 色谱 测定 氧化 氯离子 含量 方法
【主权项】:
暂无信息
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