[发明专利]一种偏振同步移相干涉测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 202011254418.7 申请日: 2020-11-11
公开(公告)号: CN112344878B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 郝群;胡摇;宁妍;吕佳航;刘一鸣 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/02;G01B9/02055
代理公司: 北京市中闻律师事务所 11388 代理人: 冯梦洪
地址: 100081 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 偏振同步移相干涉测量装置及方法,解决了非球面在位测量中灵活性和准确性之间的平衡性问题,在保证面形测量精度的同时提高测量的灵活性。装置包括:激光器(1)、扩束镜(2)、准直镜(3)、第一分光棱镜(4)、第一偏振分光棱镜(5)、第一四分之一波片(6)、线偏振器(7)、空间光调制器(8)、参考镜(9)、第二偏振分光棱镜(10)、第二四分之一波片(11)、第一成像透镜(12)、第一偏振CCD相机(13)、被测镜(14)、第三四分之一波片(15)、第二分光棱镜(16)、第四四分之一波片(17)、第二成像透镜(18)、第二偏振CCD相机(19)。
搜索关键词: 一种 偏振 同步 相干 测量 装置 方法
【主权项】:
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