[发明专利]3维测量装置及3维测量方法在审

专利信息
申请号: 202011259614.3 申请日: 2020-11-12
公开(公告)号: CN112857259A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 千贺大辅 申请(专利权)人: JUKI株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明缩短直至得到物体的3维形状的信息为止的时间。3维测量装置具有:投影装置,其对物体照射图案光;多个拍摄装置,它们配置为对图案光所照射到的物体的整个区域进行拍摄,多个拍摄装置分别对物体的局部的区域进行拍摄;以及控制装置,其从多个拍摄装置分别取得物体的局部的区域的图像数据,并且对与多个图像数据相对应的物体的局部的区域的3维形状进行计算,将计算出的多个物体的局部的区域的3维形状合成而对物体的整体的形状进行确定。
搜索关键词: 测量 装置 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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