[发明专利]一种氮化镓P型层的外延生长方法在审
申请号: | 202011262626.1 | 申请日: | 2020-11-12 |
公开(公告)号: | CN112481695A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 尹宝堂;姚青;张容川;朱静;王伟华 | 申请(专利权)人: | 辽宁百思特达半导体科技有限公司 |
主分类号: | C30B25/16 | 分类号: | C30B25/16;C30B25/18;C30B28/14;C30B29/40;H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32 |
代理公司: | 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 | 代理人: | 杨光 |
地址: | 124010 辽宁省盘锦市*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种氮化镓P型层的外延生长方法,在InGaN/GaN多量子阱发光层之间插入生长掺杂p型AlGaN,作为新增的电子阻挡层,在P型AlGaN层与具有In掺杂的低温P型GaN层之间插入至少一层高温生长P型GaN层。与现有技术相比,本发明可以获得能带间隙值和能带偏移率,从而有效降低电子泄漏,提高空穴的注入率,这种外延结构有效改善接触层后所带来的外观不足,改善了外貌形态,提高外观等级,发光效率会有明显的提高,LED亮度有较大提升,同时提高了结晶质量,对电压的降低提供足够空间;另外提高了Mg的活化性能,提高了空穴浓度,减少器件发热,降低结温,有利于制备高质量的GaN薄膜。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化 外延 生长 方法 | ||
【主权项】:
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