[发明专利]一种氮化镓P型层的外延生长方法在审

专利信息
申请号: 202011262626.1 申请日: 2020-11-12
公开(公告)号: CN112481695A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 尹宝堂;姚青;张容川;朱静;王伟华 申请(专利权)人: 辽宁百思特达半导体科技有限公司
主分类号: C30B25/16 分类号: C30B25/16;C30B25/18;C30B28/14;C30B29/40;H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32
代理公司: 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 代理人: 杨光
地址: 124010 辽宁省盘锦市*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种氮化镓P型层的外延生长方法,在InGaN/GaN多量子阱发光层之间插入生长掺杂p型AlGaN,作为新增的电子阻挡层,在P型AlGaN层与具有In掺杂的低温P型GaN层之间插入至少一层高温生长P型GaN层。与现有技术相比,本发明可以获得能带间隙值和能带偏移率,从而有效降低电子泄漏,提高空穴的注入率,这种外延结构有效改善接触层后所带来的外观不足,改善了外貌形态,提高外观等级,发光效率会有明显的提高,LED亮度有较大提升,同时提高了结晶质量,对电压的降低提供足够空间;另外提高了Mg的活化性能,提高了空穴浓度,减少器件发热,降低结温,有利于制备高质量的GaN薄膜。
搜索关键词: 一种 氮化 外延 生长 方法
【主权项】:
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