[发明专利]一种基于图像处理的晶界提取及晶粒度测量方法

摘要

本发明公开了一种基于图像处理的晶界提取及晶粒度测量方法，包括：在检测晶界时，采取分段模糊处理的方式，对金相组织的边缘进行晶界检测；在使用极限腐蚀分割晶粒时，采取4邻域和8邻域逐层交替腐蚀的方式，在每一层腐蚀完成后，计算剩余晶粒的连通面积，使面积较小的晶粒不参与下一次的腐蚀，保留小的晶粒，从而提高检测精度；最后对晶界进行细化剪枝处理，得到清晰的闭合晶界。根据标准方法，对微观组织进行自动分析。本发明可以从金相图像中准确提取晶界，并有效提高晶粒度测量的效率及精度。