[发明专利]一种毫米量级硫化钨单晶的生长方法在审

专利信息
申请号: 202011269161.2 申请日: 2020-11-13
公开(公告)号: CN112458537A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 兰飞飞;张嵩;王再恩;董增印;王健;李强;程红娟;李佳起;杨丹丹 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C30B29/46 分类号: C30B29/46;C30B25/00
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 胡京生
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种毫米量级硫化钨单晶的生长方法,采用半封闭方式,在生长开始前引入极少量的NaCl颗粒,采用的NaCl颗粒能够在相对较低的温度下(约800℃)形成含有W的化合物,进而能够在CVD生长温度下有效的提升WS2生长过程中W源的过饱和度,进而实现单晶尺寸的扩大。通过采用这种方法能够将WS2单晶尺寸扩大至1.5mm,而常规生长方法获得的WS2单晶尺寸通常仅为数十微米。显著提高成核过程中钨源的过饱和度,使得成核生长过程中衬底表面钨源供应充足,保证生长的顺利进行,能够显著增大硫化钨单晶的晶畴尺寸,利于毫米量级硫化钨单晶的生长。
搜索关键词: 一种 毫米 量级 硫化 钨单晶 生长 方法
【主权项】:
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