[发明专利]一种基于中子活化分析自屏蔽校正的裂缝体密度定量计算方法有效

专利信息
申请号: 202011275616.1 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN112392454B 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 张锋;陈前;张笑瑒;田立立;邱飞;范继林;梁启轩 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: E21B43/26 分类号: E21B43/26;E21B47/11;E21B49/00
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 陈海滨
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种基于中子活化分析自屏蔽校正的裂缝体密度定量计算方法。本发明通过向支撑剂中添加具有高热中子俘获截面的示踪元素,利用脉冲中子仪器测量压裂施工前后的俘获伽马能谱,得到压裂后裂缝体密度的测量值,基于瞬发伽马中子活化分析技术分析压裂前后的俘获伽马能谱,提取压裂前后含量不变的元素并从中任选一个元素,利用该元素压裂前后的特征峰计数比值,计算自屏蔽校正因子,通过对示踪元素特征峰计数的测量值进行自屏蔽校正确定其真实值,将示踪元素特征峰计数的真实值与裂缝体密度进行数值拟合,确定裂缝体密度定量计算公式。本发明不仅消除了因自屏蔽导致的饱和效应,还提高了裂缝响应灵敏度,实现了对裂缝体密度的定量计算。
搜索关键词: 一种 基于 中子活化分析 屏蔽 校正 裂缝 密度 定量 计算方法
【主权项】:
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