[发明专利]谷底检测方法、控制芯片及反激变换器有效
| 申请号： | 202011279598.4 | 申请日： | 2020-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN112564491B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 胡建伟;吴伟江;罗九兵;陈新政;胡如波;王立龙;王新成 | 申请（专利权）人： | 上海翰迈电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H02M3/335 | 分类号： | H02M3/335;H02M1/08;G01R19/04 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 徐秋平 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种谷底检测方法、控制芯片及反激变换器，所述谷底检测方法包括：获取第一检测周期内的谐振电压稳态值，记录第一时刻及第一谐振电压；在第二检测周期内调整所述延时时段，根据所述第二检测周期内的谐振电压稳态值记录第二时刻及第二谐振电压；比较所述第一谐振电压和所述第二谐振电压的大小关系，根据比较结果对所述延时时段进行再调整，以确定第三时刻及第三谐振电压；根据所述第一谐振电压、第二谐振电压和第三谐振电压大小关系确定原边功率管的开启时刻。本发明实现了在谐振电压的第一个谷底即可开启原边功率管，从而进一步降低了开关功耗，提高了系统转换效率。 | ||
| 搜索关键词： | 谷底 检测 方法 控制 芯片 激变 | ||
【主权项】：
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