[发明专利]一种基于温度效应的椭圆锥台形TSV的参数提取方法在审
申请号: | 202011282056.2 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN112464606A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 吕红亮;关文博;谭静茹;严思璐;赵冉冉;张玉明 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06F30/39 | 分类号: | G06F30/39 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于温度效应的椭圆锥台形TSV的参数提取方法,包括:建立包含键合凸点的椭圆锥台形TSV的物理模型;提取包含键合凸点的椭圆锥台形TSV的寄生电阻;提取包含键合凸点的椭圆锥台形TSV的寄生电感;提取包含键合凸点的椭圆锥台形TSV的寄生电容;建立包含键合凸点的椭圆锥台形TSV寄生参数对应的等效电路;对包含键合凸点的椭圆锥台形TSV的物理模型和等效电路进行S参数仿真。该参数提取方法完整考虑了键合凸点的结构,特别是考虑了键合凸点对TSV电阻和电容产生的耦合影响,能够更加准确地提取TSV各寄生参数。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 温度 效应 椭圆 锥台形 tsv 参数 提取 方法 | ||
【主权项】:
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