[发明专利]漫反射光谱检测装置和检测方法有效

专利信息
申请号: 202011283613.2 申请日: 2020-11-17
公开(公告)号: CN112461790B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 郭萌;张旭;李喆;张超 申请(专利权)人: 天津国阳科技发展有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01J3/44
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙蕾
地址: 300000 天津市西*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种漫反射光谱检测装置,包括样品实时测量光路、背景光谱校准光路、波长校准光路、光路切换装置及光谱仪,其中,所述样品实时测量光路、背景光谱校准光路和波长校准光路通过一个光路切换装置进行光路切换,并通过光纤传输到光谱仪进行分光检测。本发明将校准光源与检测光源近距离放置,可以减少校准光源的预热时间,从而缩短了校准波长的时间,延长了校准光源的使用寿命,同时保证了仪器内部温度稳定,使得样品的测量值准确性不受波长校准的影响。
搜索关键词: 漫反射 光谱 检测 装置 方法
【主权项】:
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