[发明专利]一种测量材料超声横波衰减系数与频率关系的方法和装置有效
申请号: | 202011286541.7 | 申请日: | 2020-11-17 |
公开(公告)号: | CN112362748B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 张广栋;张书增;李天骥;李雄兵 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01N29/11 | 分类号: | G01N29/11;G01N29/12 |
代理公司: | 长沙智勤知识产权代理事务所(普通合伙) 43254 | 代理人: | 彭凤琴 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种测量材料超声横波衰减系数与频率关系的方法和装置,测量材料超声横波衰减系数与频率关系的方法包括以下步骤:确定底面耦合有测试块的缓冲块的耦合界面的反射系数;利用超声探头透过缓冲块向耦合在缓冲块底面的测试块发射不同频率的超声波信号;利用超声探头分别接收经测试块顶面反射的和经测试块底面反射的不同频率的超声波信号的回波信号;根据经测试块顶面和底面反射的回波信号并结合耦合界面的反射系数计算出不同频率的超声波信号对应的测试块的超声横波衰减系数;根据各个超声波信号的频率与各个超声波信号的频率对应的超声横波衰减系数拟合得到测试块的超声横波频域衰减曲线。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 材料 超声 衰减系数 频率 关系 方法 装置 | ||
【主权项】:
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