[发明专利]一种缺陷检测方法及缺陷检测装置在审

专利信息
申请号: 202011287486.3 申请日: 2020-11-17
公开(公告)号: CN112577959A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 赵伟;苏启雄;林映庭;杨小冬 申请(专利权)人: 重庆盛泰光电有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王雨
地址: 400000 重庆市大足区*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种缺陷检测方法及缺陷检测装置,涉及成像检测技术领域。缺陷检测方法以焊接有金线的成形体作为检测对象,包括如下步骤:向所述成形体照射检测光,所述检测光包括R、G和B三种光线;在所述检测光照射所述成形体形成的反射光的光路上拍摄,得到彩色图像;基于所述彩色图像检测所述成形体的缺陷,得到检测结果。本发明提供了一种缺陷检测方法及缺陷检测装置,利用具有R、G和B三种光线的检测光照射待检测的成形体,利用三原色光的成像特点使所得到的彩色图像能够反映金线在三维空间中的缺陷,实现以2D检测的手段达到3D检测效果的目的,有效地降低了金线检测的成本。
搜索关键词: 一种 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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