[发明专利]一种基于差频双梳的激光波长测量装置及方法有效
| 申请号： | 202011296459.2 | 申请日： | 2020-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN112362173B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 武腾飞;邢帅;夏传青;梁志国 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01J9/04 | 分类号： | G01J9/04 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 王松 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种基于差频双梳的激光波长测量装置及方法，属于激光波长测量领域。本发明的装置包括差频双梳装置、激光波长测量装置、数据采集与处理装置、待测激光器、第1频率计数器、第2频率计数器及微波原子钟。差频光梳装置由飞秒激光振荡器、放大‑扩谱模块、差频器、二次放大‑扩谱模块及重复频率锁相电路组成。差频光梳的载波包络偏移频率为零，光梳无需载波包络偏移频率锁相电路，使光梳结构更为简单，能够提高测量速度和抗干扰性，还能够降低光梳系统的相位噪声，提高测量精度；本发明采用差频双梳结构，无需利用波长计粗测确定梳齿序数，也不需要分别调节重复频率和载波包络偏移频率来确定正负号，测量速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 差频双梳 激光 波长 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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