[发明专利]一种宽筛分颗粒主要粒径尺寸的非均匀声场测试方法有效
| 申请号： | 202011297519.2 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112461719B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 乔正辉;潘效军;陈明;王娟;张长飞 | 申请（专利权）人： | 南京工程学院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 南京睿之博知识产权代理有限公司 32296 | 代理人： | 刘菊兰 |
| 地址： | 211167 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种宽筛分颗粒主要粒径尺寸的非均匀声场测试方法，其特征在于将粒径尺寸不同的宽筛分颗粒放入非均匀声场中，颗粒在某个频率和声压强度的非均匀声场中悬浮、迁移、聚散、团聚、沉降，形成多条颗粒团条纹，用相机或带有显微镜功能的相机拍摄颗粒团条纹，统计、测量、计算出多个相邻颗粒团条纹的间距，并结合颗粒物性和声场参数，计算出颗粒直径；根据试验数据是否落在多条粒径‑条纹间距‑频率变化曲线上，筛选试验数据；根据粒径数值近似但频率和试验条纹间距不同，筛选出宽筛分颗粒的主要粒径尺寸。该宽筛分颗粒主要粒径尺寸测试方法，对于纳米、微米、毫米等尺寸小于声场波长的各种颗粒都具有非常高的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 筛分 颗粒 主要 粒径 尺寸 均匀 声场 测试 方法 | ||
【主权项】：
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