[发明专利]一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202011299676.7 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112491654A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 曾泳繁;蔡培奇 申请(专利权)人: 广州力挚网络科技有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26
代理公司: 东莞市说文知识产权代理事务所(普通合伙) 44330 代理人: 程修华
地址: 510610 广东省广州市天河区林和东路2*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请提供了一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及压测技术领域。该方法包括:接收压测任务,其中,压测任务包括压测次数信息与压测端口信息,且压测端口信息与测试服务器关联,且压测端口信息与压测次数信息对应,然后依据压测端口信息向关联的测试服务器发送压测次数信息,以使测试服务器依据压测次数信息向对象服务器发送并发请求,并生成第一性能测试数据,再接收测试服务器反馈的第一性能测试数据,并将第一性能测试数据进行整合。本申请提供的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质具有测试效率高且测试效果更好的优点。
搜索关键词: 一种 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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