[发明专利]一种ICP等离子体刻蚀机在审

专利信息
申请号: 202011300038.2 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112420475A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 何俊民
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01L21/67
代理公司: 深圳市创富知识产权代理有限公司 44367 代理人: 王军
地址: 232000 安徽省淮南*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及半导体制造技术领域,且公开了一种ICP等离子体刻蚀机,包括机体,所述机体的上表面固定安装有连通管,所述连通管的两侧固定安装有进气口,所述机体、连通管、进气口相连通,所述机体的顶端固定安装有铁芯,所述铁芯的外部固定套接有导线,所述机体内部的上部固定套接有屏蔽管,所述屏蔽管的外部固定套接有耦合线圈。该ICP等离子体刻蚀机,通过在增加耦合线圈电流以提高等离子密度时,由于导线此时电流随着耦合线圈同时增加,使得铁芯磁力增加,此时由于基片底座从受力平衡到受到向上的吸引力,使得基片底座向上运动,使得在增加等离子密度的同时缩短等离子运动的距离,继而将等离子之间碰撞的几率降低,使得刻蚀效果增加。
搜索关键词: 一种 icp 等离子体 刻蚀
【主权项】:
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