[发明专利]测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011302401.4 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112420117A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 李湘锦;张鹏;郭芳芳 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/38 | 分类号： | G11C29/38;G11C29/34 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 曹祥波 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对待测试的内存进行标识，生成测试数据；对待测试的内存进行读操作，获取读数据；将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。本发明支持在运行真实应用场景的时候，同时测试相关的SRAM，用于支持检测一些极端环境引发的问题，能够迅速排查是否是SRAM失效引起的，也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题，能够使mbist测试更健壮，实际使用灵活，能够更好地满足需求。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 sram 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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