[发明专利]一种导体材料电阻率测量方法有效
| 申请号： | 202011302812.3 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112505417B | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 信赢;李文鑫;杨天慧;李赓尧 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 吴学颖 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种导体材料电阻率测量方法：标准导体环实验：标准导体环安装在固定平台上，永磁体与测力计固定连接，永磁体与标准导体环沿同轴线设置；在可控驱动电机的作用下使得测力计和永磁体以一定速度沿中心轴线从起始位置穿过标准导体环运动到终止位置，在整个运动过程中，永磁体在不同点处所受到的力由测力计实时测量，实时测量结果经过计算机处理后在显示屏上显示；待测导体环实验：采用待测导体环重复上述标准导体环实验过程，测量出不同点处永磁体所受到的力，实时测量结果经过计算机处理后在显示屏上显示；计算标准导体环实验和待测导体环实验过程中永磁体受力的比值的平均值，再乘以标准导体环的电阻率，得到待测导体环的电阻率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 导体 材料 电阻率 测量方法 | ||
【主权项】：
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