[发明专利]一种多参考阻值比率测温结构及测量方法有效

专利信息
申请号: 202011304685.0 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112432714B 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 丁雷;辛世杰;裴浩东;杨溢 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01K7/21 分类号: G01K7/21;G01K7/18
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种多参考阻值比率测温结构及测量方法,该测温结构由参考电阻R1、R2……Rn和一个铂电阻Rt串联组成,n≥2,串联结构的两端导线为A1、A2,A1、A2与双向恒流源IS相连;铂电阻的两端再引出两根导线,分别为MRt、NRt;每个参考电阻的两端再引出两根导线,相应地分别为MR1、NR1、MR2、NR2……MRn、NRn;导线MRt和导线MR1、MR2……MRn与电压采集单元的正输入端口相连;导线NRt和导线NR1、NR2……NRn与电压采集单元的负输入端口相连;该电压采集单元具有可切换测量对象的能力。该测温结构适合长距离、长测量时间、环境温度变化较大的应用场合,优点是可以削弱导线电阻及温差热电势对测量结果的影响,削弱电子器件非线性所导致的测量性能劣化。
搜索关键词: 一种 参考 阻值 比率 测温 结构 测量方法
【主权项】:
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