[发明专利]一种偏振调制哈特曼-夏克波前探测装置有效
| 申请号： | 202011307242.7 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112484864B | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 顾乃庭;郭庭;黄林海;饶长辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种偏振调制哈特曼‑夏克波前探测装置，利用波前探测目标光与背景杂散光之间偏振特性差异，通过在微透镜阵列前增加可旋转的波片和检偏器，对入射光束进行偏振调制，获取不同偏振调制状态下的强度分布阵列，并利用偏振复原方法得到单个微透镜对应区域光束偏振信息，最终计算波前斜率并复原波前像差，实现对入射光束波前探测。相对于传统哈特曼‑夏克波前探测装置，本发明专利将波前探测从强度探测维度变换到偏振探测维度，利用目标光与背景杂散光偏振特性差异，将目标光从背景杂散光中分离出来，极大提升信背比，实现强背景下波前探测。本发明特别适合强背景条件下波前探测应用领域，拓展应用范围，提升探测能力，结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏振 调制 哈特曼 夏克波前 探测 装置 | ||
【主权项】：
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