[发明专利]一种提高周期参数测量精度的方法在审
| 申请号： | 202011310045.0 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112595952A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 赵桦 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06M1/272 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种提高周期参数测量精度的方法，属于参数测量领域。将测试机台参数Time set选择Extended模式，相应输出测试脚设置为freq_counter；在测试程序对应功能码里面用0标注输出脚波形计数开始的位置，X标注计数结束的位置；计算对应的周期值。整个测试结果的误差仅由测试机台计数决定，测量精度可以提高到0.001ns。利用精密仪器测量需要1秒以上的时间，本方法测试时间为10毫秒级别，大大提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 周期 参数 测量 精度 方法 | ||
【主权项】：
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