[发明专利]用于光学量测的方法、系统、计算设备和存储介质有效
| 申请号： | 202011312192.1 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112484968B | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 李同宇;陈昂;石磊;卢国鹏;郑敏嘉;范灵杰;殷海玮 | 申请（专利权）人： | 上海复享光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01Q60/24;G06F30/27 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 黄倩 |
| 地址： | 200433 上海市杨浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种用于光学量测的方法、系统、计算设备和存储介质，该方法包括：基于关于参考模型的几何参数的预设值和色散曲线数据的坐标数据，生成用于输入神经网络模型的输入数据；基于经由多个样本训练的神经网络模型生成与几何参数的预设值相关联的模拟色散曲线数据；获取关于待测对象的测量色散曲线数据；计算测量色散曲线数据与模拟色散曲线数据的距离，以便确定距离是否符合预定条件；以及响应于确定距离不符合预定条件，基于距离确定用于更新关于参考模型的几何参数的预设值的梯度，以用于基于经更新的预设值经由神经网络模型再次生成模拟色散曲线数据以便再次计算距离。本公开能够准确并且快速地针对待测对象进行光学量测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 方法 系统 计算 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海复享光学股份有限公司，未经上海复享光学股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011312192.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
