[发明专利]一种基于相控阵超声的残余应力测量装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 202011315152.2 申请日: 2020-11-20
公开(公告)号: CN112362204A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 张炯;肖俊峰;高斯峰;李永君;唐文书;南晴;高松 申请(专利权)人: 西安热工研究院有限公司
主分类号: G01L1/25 分类号: G01L1/25;G01N29/07;G01N29/24;G01N29/28
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 安彦彦
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于相控阵超声的残余应力测量装置及其测量方法,测量装置包括探头外壳、相控阵发射探头、相控阵接收探头和吸附组件;所述相控阵发射探头、相控阵接收探头均设置在探头外壳内,相控阵发射探头和相控阵接收探头相对且间隔设置;所述吸附组件设置在探头外壳外壁底部;所述吸附组件包括弹簧和磁性固定销,探头外壳外壁底部设置有探头外壳固定孔,所述弹簧和磁性固定销设置在所述探头外壳固定孔内,且弹簧上端与探头外壳固定孔顶部连接,弹簧下端与磁性固定销连接;磁性固定销能够从所述探头外壳固定孔底部伸入吸附待检测工件表面。本发明通过磁吸力将探头稳定的耦合在待检测工件表面,为残余应力测量过程提供了稳定的耦合力。
搜索关键词: 一种 基于 相控阵 超声 残余 应力 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
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