[发明专利]高频变压器损耗测量系统和方法有效
| 申请号： | 202011319090.2 | 申请日： | 2020-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN112578187B | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 易哲嫄;孙凯 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R31/00;G01K13/00;G01J5/48 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人： | 徐丁峰;戴亚南 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种HFT损耗测量系统和方法。HFT损耗测量系统应用于DUT，DUT包括HFT、原边引出端、副边引出端和外壳，其中，HFT完全包裹在外壳中，HFT包括磁芯、原边绕组和副边绕组，原边引出端与原边绕组相连，副边引出端与副边绕组相连，外壳外形为长方体；HFT损耗测量系统包括温度测量装置、损耗测量装置和处理装置，损耗测量装置包括绕组损耗测量装置和/或磁芯损耗测量装置。DUT对外界的散热通过测量DUT外壳表面的温度来获知，这种操作方式比较简单。同时，基于HFT的绕组损耗和/或磁芯损耗与温度之间的对应关系确定HFT的总损耗与温度之间的对应关系，进而确定实际总损耗。可以有效降低设备的复杂度和操作难度，并可以降低设备成本。 | ||
| 搜索关键词： | 高频变压器 损耗 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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