[发明专利]片上天线测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202011322662.2 | 申请日： | 2020-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN112557769B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 卜景鹏;东君伟;苏栋材;吴嘉华 | 申请（专利权）人： | 中山香山微波科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 44340 | 代理人： | 杨龙 |
| 地址： | 528437 广东省中山市火*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种片上天线测试系统及其实施的测试方法，其中，测试系统包括具有安装法兰的伺服机构、激光测距仪、测试探头及探针台，所述探针台用于放置待测天线，所述激光测距仪用于设置在伺服机构的安装法兰上被伺服机构驱动获取待测天线与激光测距仪之间的距离以供获取待测天线的本地坐标系，所述测试探头用于替换激光测距仪安装于安装法兰上对待测天线进行扫描测试。通过采用激光测距仪获取待测天线的距离，得到待测天线的精确的几何位置，进而可建立待测天线的本地坐标系及扫描坐标系，测试系统的结构及操作简单，有利于提高校准效率，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山香山微波科技有限公司，未经中山香山微波科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011322662.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
