[发明专利]测试器结合部及对接组件在审

专利信息
申请号: 202011322855.8 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN112834788A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 成耆炷;朴善美;金珉奭 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及处理器。具体地,根据本发明的一实施例,可以提供测试器结合部及对接组件,所述测试器结合部能够与设置有可容纳设备的插座基座的测试器及处理器中的任一个相结合,包括对接板,所述对接板中形成有开口部及多个引导部,所述开口部用于将设置于所述插座基座中的所述设备暴露于所述处理器,为了可分离式结合于所述测试器,所述引导部具有槽及突起中的一个形状,多个所述引导部中的至少一部分与形成于所述测试器中的多个测试器引导件相结合,从而所述对接板能够与所述测试器相结合。
搜索关键词: 测试 结合部 对接 组件
【主权项】:
暂无信息
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