[发明专利]存储器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202011323410.1 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN113257819A 公开(公告)日: 2021-08-13
发明(设计)人: 张盟昇;黄家恩;王奕 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;H01L21/8246
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 公开了一种半导体器件。半导体器件包括形成在衬底上的基于鳍的结构。半导体器件包括形成在衬底上的彼此垂直间隔开的多个第一纳米片。半导体器件包括电耦合至基于鳍的结构的第一端的第一源极/漏极(S/D)区域。半导体器件包括电耦合至基于鳍的结构的第二端和多个第一纳米片的第一端两者的第二S/D区域。半导体器件包括电耦合至多个第一纳米片的第二端的第三S/D区域。基于鳍的结构具有第一晶格方向,并且多个第一纳米片具有与第一晶格方向不同的第二晶格方向。本发明的实施例还涉及存储器件及其制造方法。
搜索关键词: 存储 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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