[发明专利]一种多通道芯片老化系统及方法有效
| 申请号： | 202011324523.3 | 申请日： | 2020-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN112578253B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 李连城;潘儒胜;郑波;孙鼎;张伟;过开甲;魏志坚 | 申请（专利权）人： | 深圳市迅特通信技术股份有限公司;江西迅特通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 关向兰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多通道芯片老化系统，系统包括：上位机、与老化装置连接的老化电源、与老化电源连接的老化装置；老化装置包括：加电板、跨阻电芯片和至少一块待老化芯片，加电板一端与老化电源连接；跨阻电芯片与加电板另一端连接；至少一块待老化芯片同时与跨阻电芯片连接；固定于老化装置中的焊盘，跨阻电芯片固定于焊盘上且与焊盘连接；壳体；壳体引脚，壳体引脚固定于壳体内侧；插座，插座固定于壳体外侧，插座同时与壳体引脚连接。解决了现有技术中难以实现对APD芯片批量老化、对特殊封装形式的APD芯片进行老化，以及裸芯片直接老化时加电不同引脚间出现不一致性的问题，实现了对不同封装形式的APD芯片进行批量老化，提高芯片老化效果精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通道 芯片 老化 系统 方法 | ||
【主权项】：
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