[发明专利]交叉验证算法优化LSTM网络继电器贮存寿命预测方法在审

专利信息
申请号: 202011325159.2 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN112488295A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 王召斌;陈康宁;尚尚;李朕;李维燕;乔青云;刘百鑫 申请(专利权)人: 江苏科技大学
主分类号: G06N3/04 分类号: G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 杭行
地址: 212003*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于继电器贮存寿命预测算法优化领域,具体地说,是一种交叉验证算法优化LSTM网络的电磁继电器贮存寿命预测方法。为了提高贮存寿命的预测精度,本发明将对加速贮存试验采集到的原始性能参数信息进行图像分析、统计学分析等初步分析,针对LSTM模型参数较难选取的问题,利用交叉验证的方法进行LSTM模型参数的寻优,尽量保证所选参数的准确性,确定后续贮存寿命预测所需的敏感参数。为了进一步地提高预测结果的精准性,采用交叉验证优化长短记忆神经网络对继电器的贮存寿命进行预测。
搜索关键词: 交叉 验证 算法 优化 lstm 网络 继电器 贮存 寿命 预测 方法
【主权项】:
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